一、電子產品可靠性試驗目的通常有以下幾個方面：

  1、在研制階段用以暴露試制產品各方面的缺陷，評價產品可靠性達到預定指標的情況。

  2、生產階段為監(jiān)控生產過程提供信息。

  3、對定型產品進行可靠性鑒定或驗收。

  4、暴露和分析產品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及有關的失效模式和失效機理。

  5、為改進產品可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產品提供依據。 

  6、環(huán)境試驗是考核產品在各種環(huán)境（振動、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等）條件下的適應能力，是評價產品可靠性的重要試驗方法之一。 

  7、壽命試驗是研究產品壽命特征的方法，這種方法可在實驗室模擬各種使用條件來進行。通過壽命試驗可以對產品的可靠性水平進行評價，并通過質量反饋來提高新產品可靠性水平。 

  8、篩選試驗是一種對產品進行全數檢驗的非破壞性試驗。其目的是為選擇具有一定特性的產品或剔早期失效的產品，以提高產品的使用可靠性。產品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實際使用時產品的可靠性水平。